Мелкие дефекты теряются, а метрика молчит: систематическое сравнение Mask R-CNN и YOLO на 1812 производственных снимках
Привет, Хабр! Меня зовут Максим, я студент РТУ МИРЭА, и хочу поделиться темой, которая меня давно зацепила.Рано или поздно на это натыкается каждый, кто делает визуальный контроль на своих данных. Модель уверенно находит крупные детали, средняя метрика выглядит вполне достойно, а мелкие дефекты, ради которых всё и затевалось, она почти не видит. По общей цифре этого не понять.Ниже инженерный разбор: что проверялось, на каком протоколе, где легко ошибиться и какие выводы из этого следуют. Читать далее